数字散斑基本原理,光子散斑干涉测量技术有哪些？

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散斑干涉法：实验应力分析方法的一种。漫反射表面被激光照明时，在空间出现随机分布的亮斑和暗斑，称为散斑。散斑随物体的变形或运动而变化。

实验应力分析方法的一种。漫反射表面被激光照明时，在空间出现随机分布的亮斑和暗斑，称为散斑。散斑随物体的变形或运动而变化。采用适当的方法，对比变形前后的散斑图的变化，就可以高度精确地检测出物体表面各点的位移。这就是散斑干涉法。

激光器用于全息照相后，就发现激光形成的散斑。但它最初被认为是一种带着无用信息的特殊噪声。1969～1970年，散斑所携带的信息得到了应用，发展成为一些测试方法。例如J.A.伦德尔茨的双光束散斑干涉法，E.阿奇博尔德、J.M.伯奇和A.E.恩诺斯的单光束散斑干涉法，K.A.斯特森等人的散斑测振法。前两种属于测量变形的散斑干涉法。

双光束散斑干涉法 　在相干光照明下，把待测表面漫反射所形成的散斑场，和固定且不变形的另一表面的漫反射所形成的散斑场叠加，构成一个新的散斑场。在待测表面发生变形的过程中，这个叠加而成的散斑场将发生如下变化：变形体表面沿法线方向每移动1/2波长的距离，斑的明暗变化就形成一个循环。当物体表面有不均匀的离面位移时，凡是位移为1/2波长及其整数倍的地方，散斑仍是原来的状态。变形前后斑的亮度分布的细节完全相同的区域，称为相关部分；反之，则称为不相关部分。故可以采用适当的方法，把相关部分的干涉条纹显示出来，从而了解物体表面的全场变形状况。

数字散斑相关方法; 应用数字图像相关法计算变形前后图像中各点的位移量时,先通过整像素搜索法来确定各点的整像素位移,进而根据整像素搜索得到的相关系数值来计算各点的亚像素位移.提出了一种新的整像素搜索法,即采用计算窗口加权的方法对变形前后图像中的点进行搜索计算

实验应力分析方法的一种。漫反射表面被激光照明时，在空间出现随机分布的亮斑和暗斑，称为散斑。散斑随物体的变形或运动而变化。采用适当的方法，对比变形前后的散斑图的变化，就可以高度精确地检测出物体表面各点的位移。这就是散斑干涉法。

采用实验和理论分析方法对材料在高应变率下的动态力学性能进行了研究。不同应变率条件下聚碳酸酯材料的动态变形行为由高速相机采集系统和二维数字散斑相关方法获取。采用一级轻气炮装置开展了平板撞击试验,测定了材料一维平面波下的Hugoniot关系。实验结果表明:通过改进的分离式霍普金森杆所测得的应变与二维数字散斑相关技术(2D-DIC)得到的结果吻合。聚碳酸酯的抗压强度、抗拉强度和弹性模量均随着应变率的增加而增加。随后,基于最小二乘法完成了冲击波速度和质点速度关系的Hugoniot状态方程:D=2. 39+1. 55u。

通过专业设备发射强光脉冲，以达到剥蚀、清洁等作用

pewpew镭射光是通过激光器产生高能量光束，然后将光束聚焦到一个小点，在该点产生高温和高压，以使物体表面的物质熔化或蒸发从而达到剥蚀、清洁等效果

该技术被广泛应用于工业、医学、科研等领域

pewpew镭射光可以用于制造微电子、加工、清洗烤瓷牙等领域，具有高效、准确、可控性强等优点

不过操作时需要一定的专业技能和安全意识，以免对人体和环境造成危害

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